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I - EINLEITUNG
Bei der Entwicklung der Strahlfächer wurden gezielt elektronenmikroskopische Abbildungen genutzt, um die Eigentschaften optischer Bauteile zu messen und zu optimieren. Die unten stehende Abbildung zeigt eine Aluminium-Probe/NiP der ersten Generation.
Alle Bilder wurden mit dem Elektronenrastermikroskop TESCAN Vega 5136XM des LTDS (Le laboratoire de Tribologie et Dynamique des Systèmes) aufgenommen.
II - ERGEBNISSE
• Guter Oberflächenzustand auf Mikrometerskalen
Bild und Spektrum einer sauberen Zone
Man erkennt äußerst schwache Verunreinigungen (Sauerstoff, Chlor, Kalium) und die Dominanz des NiP. Ansonsten guter Oberflächenzustand.
Bild und Spektrum einer Tropfenspur
Auf der Tropfenspur zeigen sich Rückstände von Chlor und Schwefel - deutliche Anzeichen, dass es sich um die Spur eines Wassertropfens handelt.
• Zwischenräume zwischen den einzelnen Fächersegmenten von etwa 10 Mikrometern, in denen sich Verunreinigungen sammeln, jedoch ohne nennenswerte Beeinflussung der Spiegeloberflächen
Bild und Spektrum einer Kante
Deutliche Spuren von Sauerstoff, obwohl Nickel und Phosphor (NiP) schwächer hervortreten als im Zentrum der Oberfläche. Dies zeigt, dass die Beschichtung sich zu den Kanten hin verändert (dies war vermutet worden.)
• Scharfe Kanten der Strahlfächersegmente mit zahlreichen Spuren von mechanischen Defekten und chemischen Verunreinigungen, die zeigen, dass die Oberflächenbehandlung in diesen Bereichen nicht uniform ist.
• Stufen zwischen Spiegelsegmenten mit mechanischen Defekten: Sollte im Rahmen der Schaffung von Dunkelzonen bei der reflektierenden Oberflächenbeschichtung beobachtet werden.
III- FAZIT
Die elektronenmikroskopischen Aufnahmen zeigen, das die Spiegeloberflächen von hoher Qualität sind, bestätigen jedoch auch, dass den Übergängen zwischen Spiegelsegmenten besondere Aufmerksamkeit zukommen muss. Insbesondere an den stufenförmigen Kanten können Diffusion, Korrosion und nicht reflektierende Zonen auftreten.
