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  • Elektronenmiskroskopie bei der Entwicklung der Strahlfächer

    Ghaouti HANSALI, Lutz WISOTZKI



    I - EINLEITUNG

    Bei der Entwicklung der Strahlfächer wurden gezielt elektronenmikroskopische Abbildungen genutzt, um die Eigentschaften optischer Bauteile zu messen und zu optimieren. Die unten stehende Abbildung zeigt eine Aluminium-Probe/NiP der ersten Generation.

    Alle Bilder wurden mit dem Elektronenrastermikroskop TESCAN Vega 5136XM des LTDS (Le laboratoire de Tribologie et Dynamique des Systèmes) aufgenommen.



    II - ERGEBNISSE

    Guter Oberflächenzustand auf Mikrometerskalen


    Image slicer, quelques poussières et traces de gouttes (sans doute de l'eau : trace de Cl et K)
    Image slicer, quelques poussières et traces de gouttes (sans doute de l’eau : trace de Cl et K)


    Bild und Spektrum einer sauberen Zone


    Image sur une zone propre
    Image sur une zone propre
    Spectre sur une zone propre
    Spectre sur une zone propre


    Man erkennt äußerst schwache Verunreinigungen (Sauerstoff, Chlor, Kalium) und die Dominanz des NiP. Ansonsten guter Oberflächenzustand.

    Bild und Spektrum einer Tropfenspur


    Image sur la trace de la goutte
    Image sur la trace de la goutte
    Spectre sur la trace de la goutte
    Spectre sur la trace de la goutte


    Auf der Tropfenspur zeigen sich Rückstände von Chlor und Schwefel - deutliche Anzeichen, dass es sich um die Spur eines Wassertropfens handelt.

    Zwischenräume zwischen den einzelnen Fächersegmenten von etwa 10 Mikrometern, in denen sich Verunreinigungen sammeln, jedoch ohne nennenswerte Beeinflussung der Spiegeloberflächen

    Bild und Spektrum einer Kante


    Image d'une arête
    Image d’une arête
    Spectre d'une arête
    Spectre d’une arête


    Deutliche Spuren von Sauerstoff, obwohl Nickel und Phosphor (NiP) schwächer hervortreten als im Zentrum der Oberfläche. Dies zeigt, dass die Beschichtung sich zu den Kanten hin verändert (dies war vermutet worden.)

    Scharfe Kanten der Strahlfächersegmente mit zahlreichen Spuren von mechanischen Defekten und chemischen Verunreinigungen, die zeigen, dass die Oberflächenbehandlung in diesen Bereichen nicht uniform ist.


    Interstices inter slicer
    Interstices inter slicer


    Stufen zwischen Spiegelsegmenten mit mechanischen Defekten: Sollte im Rahmen der Schaffung von Dunkelzonen bei der reflektierenden Oberflächenbeschichtung beobachtet werden.



    III- FAZIT

    Die elektronenmikroskopischen Aufnahmen zeigen, das die Spiegeloberflächen von hoher Qualität sind, bestätigen jedoch auch, dass den Übergängen zwischen Spiegelsegmenten besondere Aufmerksamkeit zukommen muss. Insbesondere an den stufenförmigen Kanten können Diffusion, Korrosion und nicht reflektierende Zonen auftreten.